• Партнер

  • Группа американских учёных начала
    трёхлетний проект по исследованию
    технологии создания микрочипов, способных
    самостоятельно восстанавливаться после
    сбоев. О начале работ над проектом было
    объявлено на прошлой неделе на конференции
    по автоматизации проектирования,
    проходившей в Сан-Франциско,
    представителями корпорации Semiconductor Research,
    Национального научного фонда США и
    Университета штата Мичиган.

    Предполагается построить технологию
    проектирования чипов, которая будет более
    эффективно производить поиск неисправных
    частей чипа, переводить вычислительные
    функции с нерабочих частей на рабочие, а
    затем исправлять возникшие неполадки и
    возвращать отремонтированный участок в
    строй. При этом микрочип сможет
    восстанавливаться за счёт использования
    онлайнового ПО и собственных компонентов.
    На данный момент для поиска и диагностики
    проблем в полупроводниках используется их
    избыточность, что требует значительных
    дополнительных затрат, ухудшения
    производительности и увеличении размеров
    чипа. Моделирование надёжности сложных
    систем становится всё более сложным, так
    как требует рассматривать всё больше
    разнообразных факторов, от дефектов в
    кремниевых проводах до недоработок в
    программных приложениях. В ходе
    исследования будет разработана как прямая,
    так и интуитивная модель коррекции ошибок,
    а также созданы быстрые и точные способы
    анализа надёжности инфраструктуры.
    Несмотря на то, что работа над проектом
    займёт три года, учёные собираются
    периодически представлять получаемые
    результаты. Корпорация Semiconductor Research
    планирует использовать результаты проекта
    в широком спектре приложений, использующих
    электронные компоненты на основе кремния.

    Подписаться
    Уведомить о
    0 комментариев
    Межтекстовые Отзывы
    Посмотреть все комментарии