Группа американских учёных начала
трёхлетний проект по исследованию
технологии создания микрочипов, способных
самостоятельно восстанавливаться после
сбоев. О начале работ над проектом было
объявлено на прошлой неделе на конференции
по автоматизации проектирования,
проходившей в Сан-Франциско,
представителями корпорации Semiconductor Research,
Национального научного фонда США и
Университета штата Мичиган.
Предполагается построить технологию
проектирования чипов, которая будет более
эффективно производить поиск неисправных
частей чипа, переводить вычислительные
функции с нерабочих частей на рабочие, а
затем исправлять возникшие неполадки и
возвращать отремонтированный участок в
строй. При этом микрочип сможет
восстанавливаться за счёт использования
онлайнового ПО и собственных компонентов.
На данный момент для поиска и диагностики
проблем в полупроводниках используется их
избыточность, что требует значительных
дополнительных затрат, ухудшения
производительности и увеличении размеров
чипа. Моделирование надёжности сложных
систем становится всё более сложным, так
как требует рассматривать всё больше
разнообразных факторов, от дефектов в
кремниевых проводах до недоработок в
программных приложениях. В ходе
исследования будет разработана как прямая,
так и интуитивная модель коррекции ошибок,
а также созданы быстрые и точные способы
анализа надёжности инфраструктуры.
Несмотря на то, что работа над проектом
займёт три года, учёные собираются
периодически представлять получаемые
результаты. Корпорация Semiconductor Research
планирует использовать результаты проекта
в широком спектре приложений, использующих
электронные компоненты на основе кремния.
